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電子元件跌落受損試驗(yàn)機(jī)

更新時間:2023-12-06   點(diǎn)擊次數(shù):209次

一、用途:適用于行動電話(手機(jī))、鋰電池、對講機(jī)、電子詞典,樓寓對講電話、CD/MD/MP3、等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之自由落下試驗(yàn)。

自由跌落試驗(yàn)機(jī)_副本.png

二、滿足標(biāo)準(zhǔn):

UL2054-2005、GB/T 18287-2000SJ/T 11169-1998、GB 31241-2014YD 1268- 2003、YD 1268.2- 2003、QC/T 744-2006、QC/T 743-2006、SJ/T 11170-1998、GB 8897.4-2002、MT/T1051-2007 

三、特點(diǎn):自由掉落撞擊試驗(yàn)機(jī)采用氣動結(jié)構(gòu),將被測試件置于專用夾具(可調(diào)行程)夾牢,按下跌落鍵,氣缸松開,試件將作自由落體試驗(yàn),跌落高度可作上下調(diào)整,并附有高度標(biāo)尺,可得知試件跌落高度,多種跌落地板供選用,可滿足不同試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。


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